In English

FinDNano
Etusivu Info Laite- ja osaamisluokitus Tutkimuslaitokset Yritykset Haku Ota yhteyttä Linkit Kuvapankki

FinDNanoHae FinDNanosta


Etusivu » Laite- ja osaamisluokitus

Other Film thickness measurement

  • 1. Nanofabrication
  • 2. Characterization
  • 2.3. Film thickness measurement
  • 2.3.1. Ellipsometry
  • 2.3.2. Reflectometry
  • 2.3.3. Profilometry
  • 2.3.4. Interferometry
  • 2.3.5. UV-vis Spectroscopy
  • 2.3.6. Other Film thickness measurement
    • Laitteet
    SPR - pintaplasmoniresonanssianturi - Tampereen teknillinen yliopisto
    X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) - Tampereen teknillinen yliopisto

  • 3. Computation, Modeling and Simulation
  • 4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Sivukartta
Powered by Evianet Solutions Oy