In English

FinDNano
Etusivu Info Laite- ja osaamisluokitus Tutkimuslaitokset Yritykset Haku Ota yhteyttä Linkit Kuvapankki

FinDNanoHae FinDNanosta


Etusivu » Laite- ja osaamisluokitus

Reflectometry

  • 1. Nanofabrication
  • 2. Characterization
  • 2.3. Film thickness measurement
  • 2.3.1. Ellipsometry
  • 2.3.2. Reflectometry
    • Laitteet
    Reflectometer - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
    X-ray diffractometer - Helsingin yliopisto
    X-ray diffractometer - Helsingin yliopisto

    Osaamiset
    Thin Films and Other Nanostructured Materials - Helsingin yliopisto
  • 2.3.3. Profilometry
  • 2.3.4. Interferometry
  • 2.3.5. UV-vis Spectroscopy
  • 2.3.6. Other Film thickness measurement
  • 3. Computation, Modeling and Simulation
  • 4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Sivukartta
Powered by Evianet Solutions Oy