In English
Etusivu
Info
Laite- ja osaamisluokitus
Tutkimuslaitokset
Yritykset
Haku
Ota yhteyttä
Linkit
Kuvapankki
Hae FinDNanosta
Etusivu
» Laite- ja osaamisluokitus
Other Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
1. Nanofabrication
2. Characterization
2.1. Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
2.1.1. Scanning Electron Microscopy (SEM)
2.1.2. Transmission Electron Microscopy (TEM)
2.1.3. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
2.1.4. Atomic Force Microscopy (AFM)
2.1.5. Focused Ion Beam (FIB)
2.1.6. X-ray Tomography
2.1.7. Confocal Microscopy
2.1.8. Surface Profilometry
2.1.9. Particle Size Analysis and Counting (PCS, DLS)
2.1.10. Other Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
Laitteet
Calibration of transfer standards - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Fizeau interferometer - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Fluorescence Microscope - Jyväskylän yliopisto
Laser diffractometer - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Laser interferometer - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Line scale interferometer - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Optical Microscope - Jyväskylän yliopisto
Stylus instrument - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Stylus Profilometer - Mikpolis Oy
Osaamiset
Quantitative microscopy - MIKES (Mittatekniikan keskus)
3. Computation, Modeling and Simulation
4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Powered by
Evianet Solutions Oy