In English
Etusivu
Info
Laite- ja osaamisluokitus
Tutkimuslaitokset
Yritykset
Haku
Ota yhteyttä
Linkit
Kuvapankki
Hae FinDNanosta
Etusivu
» Laite- ja osaamisluokitus
Surface Profilometry
1. Nanofabrication
2. Characterization
2.1. Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
2.1.1. Scanning Electron Microscopy (SEM)
2.1.2. Transmission Electron Microscopy (TEM)
2.1.3. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
2.1.4. Atomic Force Microscopy (AFM)
2.1.5. Focused Ion Beam (FIB)
2.1.6. X-ray Tomography
2.1.7. Confocal Microscopy
2.1.8. Surface Profilometry
Laitteet
Atomic Force Microscope - Savonia-ammattikorkeakoulu
Optical 3D profilometer - Mikpolis Oy
Optical profiling system - Tampereen teknillinen yliopisto
Stylus instrument - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Surface profiler - Itä-Suomen yliopisto
Osaamiset
Nanoindentation - Savonia-ammattikorkeakoulu
Quantitative microscopy - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Thin film deposition and analysis - Lappeenrannan teknillinen yliopisto
2.1.9. Particle Size Analysis and Counting (PCS, DLS)
2.1.10. Other Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
3. Computation, Modeling and Simulation
4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Powered by
Evianet Solutions Oy