In English
Etusivu
Info
Laite- ja osaamisluokitus
Tutkimuslaitokset
Yritykset
Haku
Ota yhteyttä
Linkit
Kuvapankki
Hae FinDNanosta
Etusivu
» Laite- ja osaamisluokitus
Atomic Force Microscopy (AFM)
1. Nanofabrication
2. Characterization
2.1. Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
2.1.1. Scanning Electron Microscopy (SEM)
2.1.2. Transmission Electron Microscopy (TEM)
2.1.3. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
2.1.4. Atomic Force Microscopy (AFM)
Laitteet
Atomic Force Microscope - Itä-Suomen yliopisto
Atomic Force Microscope - Savonia-ammattikorkeakoulu
Atomic Force Microscope - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Atomic Force Microscope - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Atomic Force Microscope (AFM) - Jyväskylän yliopisto
Atomic Force Microscope (AFM) - Jyväskylän yliopisto
Atomivoimamikroskooppi (AFM) - Tampereen teknillinen yliopisto
Atomic Force Microscope (AFM) - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Atomic Force Microscope (AFM) - Jyväskylän yliopisto
Atomic Force Microscope (Veeco Dimension 5000) - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Atomic Force Microscope (Veeco MultiMode) - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Metrology Atomic Force Microscope (MAFM) - MIKES (Mittatekniikan keskus)
Scanning probe microscope - Åbo Akademi
Scanning Probe Microscope (SPM) - Helsingin yliopisto
Osaamiset
Nanoindentation - Savonia-ammattikorkeakoulu
Quantitative microscopy - MIKES (Mittatekniikan keskus)
surface characterization / pintakarakterisointi - Åbo Akademi
Thin film deposition and analysis - Lappeenrannan teknillinen yliopisto
Thin Films and Other Nanostructured Materials - Helsingin yliopisto
2.1.5. Focused Ion Beam (FIB)
2.1.6. X-ray Tomography
2.1.7. Confocal Microscopy
2.1.8. Surface Profilometry
2.1.9. Particle Size Analysis and Counting (PCS, DLS)
2.1.10. Other Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
3. Computation, Modeling and Simulation
4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Powered by
Evianet Solutions Oy