In English
Etusivu
Info
Laite- ja osaamisluokitus
Tutkimuslaitokset
Yritykset
Haku
Ota yhteyttä
Linkit
Kuvapankki
Hae FinDNanosta
Etusivu
» Laite- ja osaamisluokitus
Transmission Electron Microscopy (TEM)
1. Nanofabrication
2. Characterization
2.1. Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
2.1.1. Scanning Electron Microscopy (SEM)
2.1.2. Transmission Electron Microscopy (TEM)
Laitteet
Energy Filtered Transmission Electron Microscope (EFTEM) - Oulun yliopisto
Field emission scanning electron microscope (FEG-SEM) - Tampereen teknillinen yliopisto
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) - Oulun yliopisto
Focused Ion Beam (FIB) System - Oulun yliopisto
High Resolution Transmission Electron Microscope (JEOL JEM-2200FS with 2x Cs correctors) - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Liquid Helium Cryo-Transmission Electron Microscope (JEOL JEM-3200FSC) - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Transmission electron microscope - Tampereen teknillinen yliopisto
Transmission electron microscope - Itä-Suomen yliopisto
Transmission Electron Microscope (Tecnai 12 Bio Twin TEM) - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Transmission Electron Microscope (TEM) - Jyväskylän yliopisto
Transmission Electron Microscope (TEM) - Jyväskylän yliopisto
2.1.3. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
2.1.4. Atomic Force Microscopy (AFM)
2.1.5. Focused Ion Beam (FIB)
2.1.6. X-ray Tomography
2.1.7. Confocal Microscopy
2.1.8. Surface Profilometry
2.1.9. Particle Size Analysis and Counting (PCS, DLS)
2.1.10. Other Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
3. Computation, Modeling and Simulation
4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Powered by
Evianet Solutions Oy