In English
Etusivu
Info
Laite- ja osaamisluokitus
Tutkimuslaitokset
Yritykset
Haku
Ota yhteyttä
Linkit
Kuvapankki
Hae FinDNanosta
Etusivu
» Laite- ja osaamisluokitus
Scanning Electron Microscopy (SEM)
1. Nanofabrication
2. Characterization
2.1. Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
2.1.1. Scanning Electron Microscopy (SEM)
Laitteet
E-beam Lithography Tool / SEM - Jyväskylän yliopisto
E-beam Lithography Tool / SEM - Jyväskylän yliopisto
Electron Beam Microscope/Electron Beam Lithography System - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Field emission scanning electron microscope (FEG-SEM) - Tampereen teknillinen yliopisto
Field emission scanning electron microscope (FESEM) - Helsingin yliopisto
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) - Oulun yliopisto
Field emission scanning electron microscope, FE-SEM - Itä-Suomen yliopisto
Focused Ion Beam (FIB) System - Oulun yliopisto
Scanning Electron Microscope - Itä-Suomen yliopisto
Scanning electron microscope - Itä-Suomen yliopisto
Scanning Electron Microscope - Mikpolis Oy
Scanning Electron Microscope - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Scanning Electron Microscope (JEOL JSM-7500F) - Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu (TKK)
Scanning electron microscope (SEM) - Tampereen teknillinen yliopisto
Scanning Electron Microscope (SEM) - Jyväskylän yliopisto
Scanning Electron Microscope (SEM) - Jyväskylän yliopisto
Pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM) - Tampereen teknillinen yliopisto
Scanning Electron Microscope (SEM) - Oulun yliopisto
Scanning Electron Microscope (SEM) - Jyväskylän yliopisto
Scanning Electron Microscope (SEM) and Energy Dispersive X-ray Spectrometer (EDS) - Teknologiakeskus KETEK Oy
Scanning electron microscope + e-beam lithography system - Savonia-ammattikorkeakoulu
SEM (Scanning Electron Microscope) - Åbo Akademi
Osaamiset
Chemical and physical characterisation on the nano-scale of surfaces from natural materials. - Åbo Akademi
Thin film deposition and analysis - Lappeenrannan teknillinen yliopisto
Thin Films and Other Nanostructured Materials - Helsingin yliopisto
2.1.2. Transmission Electron Microscopy (TEM)
2.1.3. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
2.1.4. Atomic Force Microscopy (AFM)
2.1.5. Focused Ion Beam (FIB)
2.1.6. X-ray Tomography
2.1.7. Confocal Microscopy
2.1.8. Surface Profilometry
2.1.9. Particle Size Analysis and Counting (PCS, DLS)
2.1.10. Other Imaging, Surface Profiling and Geometric Characterization
3. Computation, Modeling and Simulation
4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Powered by
Evianet Solutions Oy