Atomic Force Microscope

Nimi ja malli: Nanosurf easyScan 2

Yhteyshenkilö: Nikolai Chekurov

Valmistusvuosi: 2008

Asennusvuosi: 2008

Laitteen yleiskuvaus: Portable atomic frce microscope (AFM) for educational use

Käyttö: Teaching, demonstrations

Tärkeimmät ominaisuudet ja lisävarusteet: Contact mode atomic force microscope (AFM), portable

Tärkeimmät spesifikaatiot:

Scan range                                            70x70 µm

Max. z-range                                           14 µm

z-resolution                                             0,21 nm

xy-resolution                                           1,1 nm

z-noise level (RMS static/dynamic)    0,6 nm/0,5  nm

Valokuva:

Sijainti: Micronova Nanofabrication Centre. Tietotie 3, 02150 Espoo

Kaupunki: Espoo