Mapping Controlled Atmosphere Kelvin-Probe System

Nimi ja malli: Semilab High Temperature Kelvin Scanner

Yhteyshenkilö: Sergey Novikov

Valmistusvuosi: 2004

Asennusvuosi: 2004

Laitteen yleiskuvaus: Kelvin Probe measures contactless the work function of the material. Based on change of capacitance, plates of capacitance are sample's surface and Kelvin Probe.

Käyttö: Developing new materials for the gas sensing applcation, collecting chemical image

Tärkeimmät ominaisuudet ja lisävarusteet: Two parts on Kelvin scanner's gas system: one generates gas mixture from compounds, which are liquid at room temperature and another generates compounds, which are gas at room temperature

Tärkeimmät spesifikaatiot:

Chemical image from the sample             up to 100*100 mm area

Controllable gas atmosphere's
temperature range                                         20-450°C

Valokuva:

Sijainti: Micronova Nanofabrication Centre - thin film lab R15. Tietotie 3, 02150 Espoo

Kaupunki: Espoo