Nimi ja malli: Zeiss/Opton DSM-950 Scanning Electron Microscope
Yhteyshenkilö: Antti J. Niskanen
Valmistusvuosi: Model manufactured since 1985
Asennusvuosi: 1996
Laitteen yleiskuvaus: Scanning electron microscope scans sample’s surface with high resolution. It uses electron beam instead of light.
Käyttö: Imaging and measuring submicrometer-scales
Tärkeimmät ominaisuudet ja lisävarusteet: Shows 3-dimensional structures, modified for use as an electron-beam lithography tool and electron-beam induced current (EBIC) analysis
Tärkeimmät spesifikaatiot:
Magnification up to 350 000 times
Acceleration voltage 1-30 kV
Detector SE
BSE and EDX (additionals)
Jitter silencer tennisballs
Valokuva:
Sijainti: Micronova Nanofabrication Centre – room 1152. Tietotie 3, 02150 Espoo
Kaupunki: Espoo
Lisätietoja: Antti J. Niskanen, Veli-Matti Airaksinen
Varaaminen: http://www.micronova.fi/booking
Oletko varma että haluat poistaa laitteen?
