Scanning Electron Microscope

Organisaatiot: Itä-Suomen yliopisto » Fysiikan ja matematiikan laitos (Joensuu)

Tiedot
Ulkopuolinen käyttö
Linkit ja tiedostot
Luokittelu

Nimi ja malli: LEO 1550

Valmistusvuosi: 1998

Asennusvuosi: 1998

Laitteen yleiskuvaus: Scanning electron microscope with nanometer scale resolution.

Käyttö: Imaging.

Tärkeimmät ominaisuudet ja lisävarusteet: Field emission scanning electron microscope with 200 V – 30 kV beam energy, 20x to 900.000x magnification and 1 nm resolution at 20 kV.

Tärkeimmät spesifikaatiot:

Filament	Schottky field emitter
Beam energy	200 V - 30 kV
Beam current	4 pA - 10 nA
Resolution	3 nm @ 1 kV
	1 nm @ 20 kV
Magnification	20x - 900.000x
Specimen chamber	330 mm
Stage	X: 125 mm
	Y: 100 mm
	Z: 55 mm
	Tilt: 0 - 90°
	Rotation: 360°

Valokuva:

Sijainti:

Kaupunki: Joensuu

Scanning Electron Microscope

Organisaatiot: Itä-Suomen yliopisto » Fysiikan ja matematiikan laitos (Joensuu)

Laitteen poistaminen