Optical profiling system

Nimi ja malli: Wyko NT1100

Yhteyshenkilö: Kati Rissa
+358 40 849 0142, www.tut.fi/matchar

Valmistusvuosi:

Asennusvuosi:

Laitteen yleiskuvaus: The NT1100 provides high resolution 3D surface measurement, from sub-nanometer roughness to millimeter-high steps. Advanced optics ensure sub-nanometer vertical resolution at all magnifications. The Data Stitching option adds a motorized stage for high resolution measurements over a larger field of view.

Käyttö: The NT1100 enables accurate metrology for R&D and production of MEMS, thick films, optics, ceramics, and advanced materials.

Tärkeimmät ominaisuudet ja lisävarusteet:

• Measurement Techniques: optical phase -shifting and white light vertical scanning interferometry

• Measurement Capability: three - dimensional, non - contact, surfaceprofile measurements

• Objectives: 2.5X, 5.0X, 20X, 50X

• Field-of-View Lenses: 0.5X, 1.0X, 2.0X

• Wyko Vision® software

Tärkeimmät spesifikaatiot:

Valokuva:

Sijainti: Tampere University of Technology

Kaupunki: Tampere